[1]王如志,王波,嚴(yán)輝.場致電子發(fā)射薄膜材料研究評(píng)述[J].中國材料進(jìn)展,2009,(3):006-12.
Thin Film MaterialsWANG Ruzhi,WANG Bo,YAN Hui.A Critical Review of FieldElectronEmission[J].MATERIALS CHINA,2009,(3):006-12.
點(diǎn)擊復(fù)制
場致電子發(fā)射薄膜材料研究評(píng)述
中國材料進(jìn)展[ISSN:1674-3962/CN:61-1473/TG]
- 卷:
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- 期數(shù):
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2009年第3期
- 頁碼:
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006-12
- 欄目:
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前沿綜述
- 出版日期:
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2009-05-10
文章信息/Info
- Title:
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A Critical Review of FieldElectronEmission
- 作者:
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王如志; 王波; 嚴(yán)輝
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北京工業(yè)大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院
- Author(s):
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Thin Film MaterialsWANG Ruzhi; WANG Bo; YAN Hui
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College of Materials Science and Engineering，Beijing University of Technology
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- 關(guān)鍵詞:
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場發(fā)射; 薄膜; 綜述
- 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:
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A
- 摘要:
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場致電子發(fā)射（場發(fā)射）薄膜材料由于在場發(fā)射平板顯示器、電子源等諸多高性能真空微電子器件上具有廣闊的應(yīng)用前景，引起了人們廣泛的關(guān)注與研究興趣。綜述了場發(fā)射薄膜材料的理論與實(shí)驗(yàn)研究進(jìn)展，并評(píng)述了場致電子發(fā)射薄膜材料研究的瓶頸問題及未來發(fā)展方向與趨勢。
更新日期/Last Update:
2009-05-19