[1]李天富,陳東風,劉蘊韜.中子反射技術及其在薄膜材料研究中的應用[J].中國材料進展,2009,(12):006-9.
LI Tianfu,CHEN Dongfeng,LIU Yuntao.Neutron Reflectometry and Its Application in Studies of Thin Films[J].MATERIALS CHINA,2009,(12):006-9.
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中子反射技術及其在薄膜材料研究中的應用(
)
中國材料進展[ISSN:1674-3962/CN:61-1473/TG]
- 卷:
-
- 期數:
-
2009年第12期
- 頁碼:
-
006-9
- 欄目:
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特約研究論文
- 出版日期:
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2010-01-28
文章信息/Info
- Title:
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Neutron Reflectometry and Its Application in Studies of Thin Films
- 作者:
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李天富; 陳東風; 劉蘊韜
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中國原子能科學研究院 核物理研究所
- Author(s):
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LI Tianfu; CHEN Dongfeng; LIU Yuntao
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Department of Nuclear Physics,China Institute of Atomic Energy
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- 關鍵詞:
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中子反射; 薄膜材料; 研究與應用
- 文獻標志碼:
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A
- 摘要:
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中子反射技術作為薄膜材料結構和性能表征手段之一，目前得到了廣泛的應用，尤其是在磁性薄膜和有機薄膜等研究領域的某些方面更有其不可替代的作用。將根據中子反射技術的特點，簡單介紹其基本原理和實驗技術方法，以及在某些方面的研究優勢，并列舉一些在聚合物、生物、磁性等領域的典型應用實例，為想要了解和使用該技術的科研人員提供有益的幫助
備注/Memo
- 備注/Memo:
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收稿日期：2009-10-28
基金項目：國家重點基礎研究發展計劃（2010CB833101）資助
通信作者：劉蘊韜，男，1972年生，博士，研究員
更新日期/Last Update:
2010-02-25