文章信息/Info

Title:

Study on Atom-Scal Nanomechanics and Structure under In-Situ/Application Field

作者:

張躍飛; 鄭坤; 韓曉東; 張澤

北京工業大學固體微結構研究所

Author(s):

ZHANG Yaofei;  ZHENG Kun;  HAN Xiaodong;  ZHANG Ze

Institute for Microstructure and Properties of Solid, Beijing University of Technology, Beijing

關鍵詞:

納米力學; 原子分辨電子顯微原位觀察; 納米線

分類號:

TG113.25;TG115.21+5.3

文獻標志碼:

A

摘要:

  綜述了最近自主發展起來的一種原位/外場作用下納米線力學性能與結構演變之間關系的原子分辨研究方法。該方法突破了通常將原子力顯微鏡集成到透射電鏡中后，無法施加樣品臺雙軸傾轉，從而失去對研究對象的原子分辨能力觀察的技術瓶頸，發展了一套在透射電鏡樣品支撐網上施加外力載荷的技術，成功實現對SiC和Si納米線脆/韌轉變和超常塑性行為的原子分辨動態原位觀察，為外場作用下單體一維納米線力學性能和結構演變間關系研究，提供了一種新的有效方法。